[home] [contact us]

首 页 关于我们 产品介绍 库存查询 服务支持 精英招聘 联系我们

服务支持          品质控制     - 合作伙伴       - X射线检查       - 直流特性测试       - 编程测试            客户留言         品质控制 + 首页 / 品质控制     Ｘ射线检查   X射线检测,以穿透的方式对元器件内部进行360度全方位观察,判断元器件内部结构与封装连线状态,可以了解大量的受测样品是否相同,或有混料(MIXED-UP)的问题产生;此外也得与规格书(Datasheet)相互对比,了解受测样品的正确性.封装样品的检验,得以了解芯片与封装管脚间的连接性是否正常,以排除键和引线的开短路现象.

版权所有 2012-2015 深圳市芯联通电子通讯有限公司 地 址：深圳市罗湖区沿河北路1002号瑞思国际B座7B 电 话：86-755-25027881 传真:86-755-82501848 备案序号:粤ICP备05047675号 Copyright @2012~2019 ICI-Outcome All Rights Reserved